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本設備運用先進的光學原理進行高精度檢測。光源通過光纖傳輸，經過物鏡匯聚于樣品上實現高效的透/反射過程，透/反射光被積分球接收，光譜儀迅速捕捉光信號。 設備內置精密算法，不僅能夠快速、準確地計算出 T% & R%，還能同步完成色坐標與涂層厚度的精確測量， 為材料光學特性分析、涂層質量管控等多領域應用提供一站式精準數據支持。

T40 & R40 測試工站

（添加偏振片）機制

T0 測試工站

R10 測試工站

（余弦探頭替換積分球）機制